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牛津仪器Ultim Extreme能谱探测器
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Ultim Extreme 硅漂移探测器
Ultim Extreme 硅漂移探测器是高分辨率场发射扫描电镜应用的一个突破,可提供远远超越传统微米和纳米分析的解决方案。Ultim Extreme是Ultim Max系列中的一款无窗能谱,晶体
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牛津仪器Ultim Extreme无窗超级能谱
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牛津仪器Xplore能谱探测器
Xplore是SEM常规分析所用新一代EDS探测器。探测器有效晶体面积为15/30mm2 ,应用范围广泛。Xplore使用了Ultim Max探测器中诸多新技术,它提供了实时EDS分析所需的快速数据
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牛津仪器Ultim Max硅漂移型探测器
Ultim Max是新一代硅漂移型探测器(SDD),配有大面积晶体和低噪音电子元器件,分析速度和探测灵敏性都有大幅提升。 Ultim Max采集效率可达以往的17倍,而且不会降低精度。无论您是
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能谱探测器Ultim Extreme牛津仪器 EXTREME 能谱探测器
点击查看下载能谱探测器Ultim Extreme牛津仪器 EXTREME 能谱探测器相关资料,进一步了解产品。 牛津仪器 EXTREME 能谱探测器 应用手册 Ultim Extreme 硅漂移
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牛津仪器Ultim Extreme能谱探测器 应用于纳米材料
牛津仪器能谱探测器Ultim Extreme可以用在电子/半导体行业领域,用来检测Power Semiconductors,可完成Power Semiconductors项目。符合多项行业标准
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Ultim Extreme牛津仪器能谱探测器 应用于纳米材料
牛津仪器能谱探测器Ultim Extreme适用于Power Semiconductors项目,参考多项行业标准Oxford Instruments。可以检测Power Semiconductors
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牛津仪器Ultim Extreme能谱探测器 应用于纳米材料
点击查看下载牛津仪器Ultim Extreme能谱探测器 应用于纳米材料相关资料,进一步了解产品。 牛津仪器 EXTREME 能谱探测器 应用手册 Ultim Extreme 硅漂移探测器是高分辨率
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Ultim Extreme能谱探测器牛津仪器 失效分析
牛津仪器能谱探测器Ultim Extreme用于测定Power Semiconductors,符合行业标准Oxford Instruments。适用Power Semiconductors项目
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